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测量系统分析MeasurementSystemAnalysis误差及能力分析
1测量系统分析的目的测量系统分析的目的是确定所使用的数据是否可靠测量系统分析还可以：评估新的测量仪器将两种不同的测量方法进行比较对可能存在问题的测量方法进行评估确定并解决测量系统误差问题
2数据的质量数据的质量取决于从处于稳定条件下进行操作的测量系统中，多次测量的统计特性，如：假设使用某一在稳定条件下操作的测量系统对某一特定特性值进行了几次测量，如果这些测量值均与该特性的参考值（mastervalue）“接近”），那么，数据的质量被称为“高”；同样，如果部份或所有的测量值与参考值相差“很远”，则数据|的质量很“低”
3描述测量数据质量的统计特性通常用来描述测量数据质量的统计特性是某测量系统的偏倚（Bias）和变差（variance）。被称为偏倚的统计特性指的是数据值相对于参考（基准）值的位置。被称为变差的特性指的是数据的分布宽度。
4低质量数据的原因和影响低质量数据的普遍原因之一是变差太大一组数据中的变差多是由于测量系统及其环境的相互作用造成的。如果相互作用产生的变差过大，那么数据的质量会太低，从而造成测量数据无法利用。如：具有较大变差的测量系统可能不适合用于分析制造过程，因为测量系统的变差可能掩盖制造过程的变差。
5有关测量数据的常见问题什么是测量？将一个未知量与一个已|知的或已经接受的参照值进行的比较为什么我们需要测量数据？我们使用测量数据来判断产品是否合格，制定有关过程管理的决策。我接受这件产品吗？过程是很好，还是需要进行调整？我们对测量数据有什么期望？准确性：数据必须告诉我们真相！重复性：重复测量必须产生同样的结果！再现性：结果不应该受检验员的影响。什么是测量仪器？用来进行测量的任何仪器。什么是检验员（或者鉴定人）？使用测量仪器进行测量的个人或装置
6有关测量数据的常见问题测量系统：不仅指量具。测量系统包括：人（及其培训）、过程（测量程序）、设备（量具或测量工具）、系统的控制点、及所有这些因素的相互作用。测量总偏差：总的观察偏差=过程偏|差+测量系统偏差测量是一个能影响所观察值的中心值和偏差的过程。
7有关测量数据的常见问题GageR&R分析是用来分析测量系统的方法，目的是确定测量某种东西时出现的波动（误差）的大小和类型。将“测量系统”看作是会给测量数据带来额外误差的子过程，其目的就是使用误差尽可能小的测量过程。任何观测数据的误差，都是部件的实际误差和测量系统误差的总和。
8过程变差剖析长期过程变差短期抽样产生的变差实际过程变差稳定性线性重复性准确度量具变差操作员造成的变差测量误差过程变差观测值“重复性”和“再现性”是测量误差的主要来源再现性过程变差
9连续变量测量系统分析分辨率偏移？“准确性”（居中性—均值|）线性？稳定性？校准？“准确性”（R&R）（离散性—偏差）OKOKOKOK
10测量仪器分辨率（测量仪器的分辨率必须小于或等于规范或过程误差的10%）测量仪器分辨率可定义为测量仪器能够读取的最小测量单位。看看下面的部件A和部件B，它们的长度非常相似。测量分辨率描述了测量仪器分辨两个部件的测量值之间的差异的能力。部件A部件B部件A部件BA=2.0B=2.0A=2.25B=2.00因为上面刻度的分辨率比两个部件之间的差异要大，两个部件将出现相同的测量结果。第二个刻度的分辨率比两个部件之间的差异要小，部件将产生不同的测量结果。
11测量系统的有效分辨率（discrimination）要|求不低于过程变差或允许偏差（tolerance）的十分之一零件之间的差异必须大于最小测量刻度极差控制图可显示分辨率是否足够看控制限内有多少个数据分级不同数据分级(ndc)的计算为零件的标准偏差/总的量具偏差*1.41.一般要求它大于5才可接受直尺卡尺千分尺.28.279.2794.28.282.2822.28.282.2819.28.279.2791
12分辨率不足的表现在过程变差的SPC极差图上可看出：当极差图中只有一、二或三种可能的极差值在控制界限内时。如果及差图显示有四种可能的极差值在控制界限内，且超过1/4以上的极差值为零。
13敏感度（Sensitivity）敏感度是指|能产生一个可检测到（有用的）输出信号的最小输入。它是测量系统对被测特性变化的回应。敏感度由量具设计（分辨力）、固有质量（OEM）、使用中保养，以及仪器操作条件和标准来确定。它通常被表示为一测量单位。影响敏感度的因素包括：一个仪器的衰减能力操作者的技能测量装置的重复性对于电子或气动量具，提供无漂移操作的能力仪器使用所处的条件，例如：大气条件、尘土、湿度
14准确度(Accuracy)准确度(Accuracy)—测量的平均值是否与真值吻合?真值(TrueValue):理论上正确的值国际度量衡标准偏倚（Bias)测量值的均值与真值的距离测量系统持续地偏离目标系统错误
15BIAS—测量|结果的平均值与参考值的差异.参考值（reference-value）是一个预先认定的参考标准.该标准可用更高一级测量系统测量的平均值来确定(例如：高一级计量室)观测平均值参考值偏倚BIAS
16X1=0.75mmX6=0.8mmX2=0.75mmX7=0.75mmX3=0.8mmX8=0.75mmX4=0.8mmX9=0.75mmX5=0.65mmX10=0.7mm同一操作者对同一工件测量10次如果参考标准是0.80mm.过程变差为0.70mm=0.75Bias=0.75-0.8=-0.05%Bias=100[0.05/0.70]=7.1%表明7.1%的过程变差是偏倚BIAS偏|倚BIAS实例:
17准确度的问题可以通过校准来探测.偏倚也可以与过程的容差相比较判断准确度的简单标准为.小于过程变差或容差的1%,可认为是精确的.小于过程变差或容差的1%则需要研究和调整测量系统,或者临时用补偿值来修正以后的测量值偏倚的研究还可以通过作图的方式来进行,即作出直方图,然后根据经验判断是否可以接受.偏倚的研究还可以通过计算置信区间
